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What do we know about the defect types detected in conceptual models?

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dc.contributor.authorGranda Juca, María Fernanda
dc.contributor.authorCondori Fernandez, Nelly
dc.contributor.authorVos, Tanja Ernestina
dc.contributor.authorPastor López, Oscar
dc.contributor.ponenteGranda Juca, María Fernanda
dc.date.accessioned2018-01-11T16:47:45Z
dc.date.available2018-01-11T16:47:45Z
dc.date.issued2015
dc.descriptionEn el desarrollo basado en modelos (MDD), los defectos se manejan a nivel de modelos conceptuales porque los otros artefactos se generan a partir de ellos, como modelos más refinados, casos de prueba y código. Aunque algunos estudios han informado sobre tipos de defectos a nivel de modelo, todavía no existe una descripción clara y completa de los tipos de defectos que ocurren a nivel de abstracción. Este artículo presenta un estudio de mapeo sistemático para identificar los tipos de defectos del modelo reportados en la literatura y determinar cómo se han detectado. Entre los 282 artículos publicados en el área de ingeniería de software, se seleccionaron 28 artículos para su análisis. Se identificaron un total de 226 defectos, se clasificaron y se analizaron sus resultados. Para esto, se construyó un esquema de clasificación de defectos apropiado basado en dimensiones apropiadas para modelos en un contexto MDD.
dc.description.abstractIn Model-Driven Development (MDD), defects are managed at the level of conceptual models because the other artefacts are generated from them, such as more refined models, test cases and code. Although some studies have reported on defect types at model level, there still does not exist a clear and complete overview of the defect types that occur at the abstraction level. This paper presents a systematic mapping study to identify the model defect types reported in the literature and determine how they have been detected. Among the 282 articles published in software engineering area, 28 articles were selected for analysis. A total of 226 defects were identified, classified and their results analysed. For this, an appropriate defect classification scheme was built based on appropriate dimensions for models in an MDD context.
dc.description.cityAtenas
dc.identifier.doi10.1109/RCIS.2015.7128867
dc.identifier.isbn978-1-4673-6630-4
dc.identifier.issn0000-0000
dc.identifier.urihttps://ieeexplore.ieee.org/document/7128867
dc.language.isoes_ES
dc.publisherInstitute of Electrical and Electronics Engineers
dc.source2015 IEEE 9th International Conference on Research Challenges in Information Science (RCIS)
dc.subjectConceptual Schema Defects
dc.subjectDefect Classification Scheme
dc.subjectSystematic Mapping Study
dc.subjectModel-Driven Development
dc.titleWhat do we know about the defect types detected in conceptual models?
dc.title.alternative¿Qué sabemos sobre los tipos de defectos detectados en los modelos conceptuales?
dc.typeARTÍCULO DE CONFERENCIA
dc.ucuenca.afiliacionGranda, M., Universidad de Cuenca, Departamento de Ciencias de la Computación, Cuenca, Ecuador
dc.ucuenca.afiliacionCondori, N., Vrije Universiteit Amsterdam, Amsterdam, Holanda
dc.ucuenca.afiliacionVos, T., Universitat Politècnica de València, Valencia, España
dc.ucuenca.afiliacionPastor, O., Universitat Politècnica de València, Valencia, España
dc.ucuenca.areaconocimientofrascatiamplio2. Ingeniería y Tecnología
dc.ucuenca.areaconocimientofrascatidetallado2.2.4 Ingeniería de La Comunicación y de Sistemas
dc.ucuenca.areaconocimientofrascatiespecifico2.2 Ingenierias Eléctrica, Electrónica e Información
dc.ucuenca.areaconocimientounescoamplio06 - Información y Comunicación (TIC)
dc.ucuenca.areaconocimientounescodetallado0613 - Software y Desarrollo y Análisis de Aplicativos
dc.ucuenca.areaconocimientounescoespecifico061 - Información y Comunicación (TIC)
dc.ucuenca.comiteorganizadorconferenciaDimosthenis Anagnostopoulos, Universidad Harokopio de Atenas y Colette Rolland Université Paris 1 Panthéon-Sorbonne
dc.ucuenca.conferencia2015 IEEE 9th International Conference on Research Challenges in Information Science (RCIS)
dc.ucuenca.correspondenciaGranda Juca, Maria Fernanda, fernanda.granda@ucueca.edu.ec
dc.ucuenca.fechafinconferencia2015-05-15
dc.ucuenca.fechainicioconferencia2015-05-13
dc.ucuenca.idautor0702952441
dc.ucuenca.idautor0000-0002-1044-3871
dc.ucuenca.idautorSgrp-2101-3
dc.ucuenca.idautor0000-0002-1320-8471
dc.ucuenca.indicebibliograficoSCOPUS
dc.ucuenca.numerocitaciones0
dc.ucuenca.organizadorconferenciaInstitute of Electrical and Electronics Engineers
dc.ucuenca.paisGRECIA
dc.ucuenca.urifuentehttps://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/7121393/proceeding
dc.ucuenca.versionVersión publicada
dc.ucuenca.volumenVolumen 0, número 0
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